充氣正比計數(shù)器
充氣正比計數(shù)器可分為流氣和封閉二種。
1.流氣正比計數(shù)器 流氣正比計數(shù)器在工作時有一定量氣體流過,氣體流量和壓力是受控保持衡定的。它的入射窗口是一層 很薄的涂有鋁的聚丙烯膜,厚度在1 微米左右。流氣正比計數(shù)器多數(shù)用在測角儀上,但也有小型的流氣 正比計數(shù)器用在固定道上作輕元素測定用。
ARL8400/8600 及9400 系列中使用的標準窗膜是PEA9 ,它的厚度為0.9μ?,F(xiàn)在9400XP, 9400XP+ 及9800 中使用的窗膜是薄型PEA6,它的厚度為0.6μ。而ARL 還有一種更優(yōu)秀的窗膜PEA3,其厚度僅0.3μ,因 此可以說是一種超薄型的窗膜。和PEA9 窗膜相比,PEA6 和PEA3 對超輕元素幅射的透過率有明顯改善。 用PEA6 后,氮的幅射透過率提高了1 倍,硼氧氟等元素提高了40% 而鈉和氯提高了近15% ,而其它極 大部分元素的透過率基本不變或略有提高。而如用了PEA3 后,則氮的幅射透過率提高了2 倍,硼提高 了1 倍,而氧氟提高了近50% 和70%。但是,使用PEA3 后,重元素的透過率略有下降(約下降10--20% )。 這是為了加強膜的強度,在其中增加了護格(grate )所致。因此,PEA3 不推薦在測角儀上用,而僅 在超輕元素的固定道上使用。
2.封閉式充氣正比計數(shù)器
封閉式充氣正比計數(shù)器又有二種,分別叫做 Exatron 和Multitron。二者都是 圓柱形,但體積不一樣,可充不同量的氣體。其入 射窗口的材料大都用鈹(也有用鋁的),而且厚度 較厚,約25-250 微米,以保證充氣的穩(wěn)定。因為 它都用于重元素,所以透過鈹窗時的損失不會很 大。
充氣正比計數(shù)器的工作原理
不論是封閉式還是流氣式,二者的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和工作 圖 2.12 原理基本相同。都是在一個金屬圓柱形腔體內(nèi)沿其中心軸掛有一根金屬絲,其直徑約為25-75 微米,接 高壓起陽極作用,金屬筒外殼接地作陰極筒體內(nèi)充的是惰性氣體,如,He、Ne、Ar、Kr、Xe,并混有淬 滅氣體(如甲烷,二氧化碳)。在測角儀中流氣正比計數(shù)器經(jīng)常使用的一種氣體叫P10 氣,它的組成是 90%Ar + 10%CH4, 也有使用P20 氣的(80%Ar + 20%CO2)。
1. 初級電離
X 射線光子通過窗膜射入計數(shù)器內(nèi)作用于惰性氣體,就使這些氣體原子接受能量后發(fā)生電離,產(chǎn)生電 子離子對 Ar → Ar+ + e- 。電子離子對的數(shù)量取決于不同的氣體和光子的能量。例如:Ar 氣產(chǎn)生一 個電子離子對所需的有效激發(fā)電位約為26.4 電子伏特(ev),如果射入的X 射線是CuKα線,其波長 λ = 1.542 埃,能量E = hν= hc /λ= 12.4/1.542 = 8040eV ,則每個光子可產(chǎn)生304 個電子離子 對。如果入射光子有2 倍于這個能量,則在理論上將產(chǎn)生2 倍于上述的電子離子對。
所以,對某一種確定的氣體而言,如果所有入射的光子都產(chǎn)生電子離子對,則電子離子對的數(shù)目與光 子的能量成正比,這就是為什么叫正比計數(shù)器的原因。
如果將產(chǎn)生的電子電荷計數(shù),我們就測得了入射光子的數(shù)目(強度)。但是,在初級電離過程中產(chǎn)生 的電子離子對的數(shù)目還達不到能被有效檢測的程度,人們需要將這些信號放大并具有良好的信噪比。 因而就伴隨著產(chǎn)生了另一個過程,它被叫做氣體放大或雪崩(Avalanche )。
2. 雪崩效應(yīng)(氣體放大)
設(shè)想有一個光子射入探測器內(nèi),它沿著前進的路線 與惰性氣體碰撞產(chǎn)生電子離子對,直至它的能量耗 盡。當探測器加以高壓,在電場作用下,電子走向 陽極絲而離子走向筒體負極。
上圖 顯示了陽極電壓和離子對的關(guān)系。A 區(qū)為 初級電離區(qū),在這里發(fā)生初級電離,產(chǎn)生一定數(shù)量 的電子離子對。當所加陽極電壓較低時(B 區(qū)), 產(chǎn)生的部分電子會在到達陽極前與正離子復(fù)合使 離子對不再增加,這個區(qū)域稱為不飽和區(qū)。隨著所 加電壓增大(C 區(qū)),重新復(fù)合的現(xiàn)象被完全克服, 初級電子完全走向陽級,離陽極越近,電場越強, 電子速度越快。但是在這個區(qū)域內(nèi)完全是一次電離 (完全由光子產(chǎn)生),沒有進一步的二次電離產(chǎn)生, 氣體增益為1, 即電離正比區(qū)。如果電壓繼續(xù)增高, 電子速度加快,當加速到電子與其它氣體原子碰撞 圖 2.13 產(chǎn)生二次電離,使帶電粒子數(shù)有了相當大的增加。當電子到達離陽極絲只有幾個陽極絲直徑的距離時(約 100-200 微米),倍增級數(shù)加大(即使Ar 原子進一步離子化)。在正比計數(shù)區(qū),每個初級電子只產(chǎn)生 一次雪崩效應(yīng),所產(chǎn)生的粒子不再發(fā)生什么相互作用。所以,這個經(jīng)放大后的電荷數(shù)仍正比于初級電子 數(shù),也即正比于入射光子數(shù)。XRF 分析中,探測器的工作電壓都使用這個區(qū)域的電壓。
如果繼續(xù)增高電壓,由于一個電子可能產(chǎn)生多個雪崩效應(yīng)(即一次雪崩產(chǎn)生的電子離子再產(chǎn)生雪崩), 正比性破壞。當電壓增高到使離子和原子激發(fā),陰極逐出電子,陽極被撞出次級電子等等,總之使整個 探測器中產(chǎn)生了放電,這時入射光子與探測器輸出脈沖不再有任何比例關(guān)系。這個區(qū)域是Geiger-Muller 計數(shù)器的工作區(qū)域。進一步增加電壓將產(chǎn)生連續(xù)而又持續(xù)的放電,探測器開始發(fā)光,陰陽極之間形成電 弧,探測器損壞。在正比計數(shù)區(qū)內(nèi),氣體增益可達105 -106 數(shù)量級,這足以有好的信噪比輸出。 在惰性氣體中加入淬滅氣體的目的是確保只發(fā)生一次雪崩,在工作時甲烷分子和惰性氣體一起電離,然 后分布在整個探測器空間,當雪崩無法控制時,它起到復(fù)合的作用,影響電子和離子的重新結(jié)合,抑制 雪崩的發(fā)展。
3. 電脈沖的形成
探測器被接在一個有電阻電容組成的電脈沖發(fā)生電路上,每一個進入探測器的光子都能對應(yīng)產(chǎn)生一個 電壓脈沖。在“初級電離”和“氣體放大”二節(jié)中已經(jīng)說明了一個光子能產(chǎn)生許多電子離子對,其中 電子向陽極運動,離子向陰極運動,形成電流,最終在電脈沖發(fā)生電路上形成電脈沖。電流越大,脈 沖幅值越大。這個電流的大小取決于帶電粒子的數(shù)量,而一個光子產(chǎn)生總帶電粒子的數(shù)量是由該光子 所具有的能量所決定。因此,探測器輸出電脈沖的幅值與入射光子能量成正比,而電脈沖的強度與入 射光子的數(shù)目成正比。
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